《統(tǒng)計學(xué)》考試大綱
一、基本要求
《統(tǒng)計學(xué)》考試的目的在于考查考生對統(tǒng)計學(xué)及其在社會經(jīng)濟(jì)應(yīng)用中所涉及的基本概念、基本理論和基本方法的掌握情況以及分析解決實際問題的能力。基本要求是：
1.準(zhǔn)確地理解《統(tǒng)計學(xué)》中的基本概念;
2.準(zhǔn)確地把握《統(tǒng)計學(xué)》的基本理論;
3.正確理解統(tǒng)計分析的方法;
4.能夠應(yīng)用《統(tǒng)計學(xué)》的基本理論和方法解決社會經(jīng)濟(jì)實際問題;
5.了解統(tǒng)計學(xué)的發(fā)展趨勢和發(fā)展動態(tài)。
《統(tǒng)計學(xué)》課程考試對考生的具體要求分為四個層次：
1.識記：能知道有關(guān)的名詞、概念、知識的含義，并能正確認(rèn)識和表述。
2.領(lǐng)會：在識記的基礎(chǔ)上，能全面把握基本概念、基本原理，能掌握有關(guān)概念和原理的區(qū)別與聯(lián)系。
3.簡單應(yīng)用：在領(lǐng)會的基礎(chǔ)上，能用學(xué)過的一兩個知識點分析和解決簡單的問題。
4.綜合應(yīng)用：在簡單應(yīng)用的基礎(chǔ)上，能用學(xué)過的多個知識點，綜合分析和解決較復(fù)雜的問題。
二、考試范圍
1.導(dǎo)論
識記：統(tǒng)計學(xué)的概念、數(shù)據(jù)類型、總體和樣本概念。
領(lǐng)會：數(shù)據(jù)分類的標(biāo)準(zhǔn)、總體和樣本的區(qū)別、參數(shù)和統(tǒng)計量的區(qū)別。
2.數(shù)據(jù)的來源
識記：常用的概率抽樣和非概率抽樣方法。
領(lǐng)會：不同抽樣方法適用的條件。
3.數(shù)據(jù)的描述
識記：分類數(shù)據(jù)、順序數(shù)據(jù)和數(shù)值型數(shù)據(jù)的集中趨勢、離散程度的測度、幾種常用圖形的使用和區(qū)別。
應(yīng)用：會計算分組數(shù)據(jù)和原始數(shù)據(jù)的均值、方差、標(biāo)準(zhǔn)差、離散系數(shù)。
4.參數(shù)估計
識記：點估計、區(qū)間估計概念。
綜合應(yīng)用：一個總體均值和比例的區(qū)間估計;兩個總體參數(shù)的區(qū)間估計;樣本量的計算。
5、假設(shè)檢驗
識記：兩類錯誤、原假設(shè)、臨界值概念。
綜合應(yīng)用：一個總體均值和比例的假設(shè)檢驗，包括單側(cè)、雙側(cè)、大樣本、小樣本等情況;兩個總體參數(shù)的檢驗。
6.列聯(lián)分析
識記：列聯(lián)分析的用途、卡方計算、自由度概念。
綜合應(yīng)用：會計算行百分比、列百分比和總百分比、會用卡方進(jìn)行假設(shè)檢驗。
7、方差分析
識記：方差分析原理、自由度、均方和F統(tǒng)計量計算。
綜合應(yīng)用：會計算方差分析表，并做檢驗。
8.相關(guān)與回歸
識記：相關(guān)和回歸的概念、回歸的假設(shè)條件、相關(guān)與回歸的區(qū)別。
綜合應(yīng)用：會計算相關(guān)系數(shù)、回歸系數(shù)，能對回歸方程進(jìn)行各類檢驗，并作點預(yù)測。
9.時間序列
識記：時間序列的構(gòu)成、平穩(wěn)時間序列的幾種預(yù)測方法，判斷預(yù)測好壞的標(biāo)準(zhǔn)。
綜合應(yīng)用：能用常用方法對平穩(wěn)時間序列和包含線性趨勢的時間序列進(jìn)行擬合和預(yù)測。
10.指數(shù)
識記：個體指數(shù)、綜合指數(shù)、加權(quán)指數(shù)、拉式指數(shù)、帕氏指數(shù)等概念。
綜合應(yīng)用：會使用指數(shù)因素分析進(jìn)行計算。
原文鏈接：http://yzb.njupt.edu.cn/2021/0815/c11185a201534/page.htm
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